Número de peza :
SN74ABT18640DGGR
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
Estado da parte :
Obsolete
Tipo de lóxica :
Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
56-TSSOP