Número de peza :
SN74ABT8952DW
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Estado da parte :
Obsolete
Tipo de lóxica :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
28-SOIC