Número de peza :
SN74ABT8245DW
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Tipo de lóxica :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
24-SOIC