Número de peza :
SN74BCT8373ADWRG4
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Estado da parte :
Obsolete
Tipo de lóxica :
Scan Test Device with D-Type Latches
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operación :
0°C ~ 70°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
24-SOIC