Número de peza :
SN74LVTH182512DGGR
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Tipo de lóxica :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensión de subministración :
2.7V ~ 3.6V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
64-TSSOP