Número de peza :
SN74LVTH182652APM
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
Tipo de lóxica :
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Tensión de subministración :
2.7V ~ 3.6V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
64-LQFP
Paquete de dispositivos de provedores :
64-LQFP (10x10)