Número de peza :
SN74ABTH182652APM
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Tipo de lóxica :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
64-LQFP
Paquete de dispositivos de provedores :
64-LQFP (10x10)