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- Número de peza:
- SN74ABT8952DWR
- Fabricante:
- Texas Instruments
- Descrición detallada:
- IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC.
- Prazo de entrega estándar do fabricante:
- En stock
- Vida útil:
- Un ano
- Chip De:
- Hong Kong
- RoHS:
- Forma de pago:
-
- Forma de envío:
- Categorías familiares:
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SN74ABT8952DWR Atributos do produto
Número de peza :
SN74ABT8952DWR
Fabricante :
Texas Instruments
Descrición :
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Serie :
74ABT
Estado da parte :
Obsolete
Tipo de lóxica :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tensión de subministración :
4.5V ~ 5.5V
Número de bits :
8
Temperatura de operación :
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaxe :
Surface Mount
Paquete / Estuche :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos de provedores :
28-SOIC
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